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Ostthüringische Materialprüfgesellschaft für Textil- und Kunststoffe mbH

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit Schottky-Feldemissionskathode

Die hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie ist für vielfältige Anwendungen im Bereich der Werkstoffcharakterisierung geeignet und wird aufgrund der hohen Tiefenschärfe bevorzugt zur Abbildung uneben strukturierter Oberflächen eingesetzt. Zusätzlich dient sie der Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen für die Materialforschung und der Werkstoffentwicklung sowie zur Qualitätssicherung und Schadensanalytik.

Gerät: REM: „AURIGA TM“ - Crossbeam-Basis-System, Zeiss

Für weitere Informationen: Rasterelektronenmikroskopie im TITK

Kontakt

Patrick Wendt
Telefon: + 49 3672 379 - 560
Fax: + 49 3672 379 - 379
Email: wendt@titk.de

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